X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9455M型
價 格：詢價
產(chǎn) 地：日本更新時間：2020-11-19 10:46
品 牌：SII型 號：SFT9455M型
狀 態(tài)：正常點擊量：1314
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產(chǎn)品特點
1.搭載雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，***的半導(dǎo)體檢測器（起作用液化氮）和計數(shù)率***的比例計數(shù)管，能夠根據(jù)運用需要對應(yīng)使用。特點是半導(dǎo)體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：
能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。
對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。
能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。
2.薄膜FP軟件：對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領(lǐng)域。
3.適用測定極微小部分
15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。
4.搭載75W高性能X射線管。
5.容易對微小領(lǐng)域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。
6.能夠測定大型打印基板的大型平臺。
7.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。
8.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
9.利用伺服馬達精確的驅(qū)動平臺。
10.正確的對焦
利用激光能夠正確得對焦測試樣品。
11.報告制作軟件
運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。
產(chǎn)品參數(shù)
| 型號SFT9455系列測定元素原子序號22（Ti）~ 83（Bi）X射線管管電壓：50kV管電流：1.5mA檢測器半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管準(zhǔn)直器4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）樣品觀察CCD照相機（帶可變焦距功能）對焦激光向?qū)н^濾器電動切換（一次: Mo、二次: Co）X-ray Station電腦、17英寸CRT打印噴墨打印機膜厚測定系統(tǒng)薄膜FP法，檢測線法材料分析系統(tǒng)體積FP法測定功能自動測定、中心檢索、畫像處理補正功能材料補正，已知樣品補正定性功能KL標(biāo)記、比較顯示統(tǒng)計處理功能預(yù)裝MS-EXCEL?報告制作功能預(yù)裝MS-WORD?安全機能樣品門鎖定防止樣品碰撞樣品裝置診斷功能電源100V15A
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產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品介紹
SFT9000系列里***高的機型就是SFT9455。搭載著75W高性能X射線管和雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管），符合“薄膜”、“合金膜”、“極微小部分測定”等鍍膜厚度測定要求的高性能膜厚度測量儀。SFT9455還在鍍膜厚度測定功能的基礎(chǔ)之上增加了異物定性和查資料成分分析的功能。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
