CI-110 植物冠層圖像分析儀
價 格：詢價
產(chǎn) 地：美國更新時間：2020-10-23 14:29
品 牌：CID, Inc型 號：CI-110
狀 態(tài)：正常點擊量：2770
400-006-7520
聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實業(yè)有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時請說在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的,謝謝！
CI-110的出現(xiàn)是20世紀90年代CID公司在生理生態(tài)儀器研制中的***個創(chuàng)新。CID公司于上世紀80年代，在世界范圍內(nèi)***次推出了通過80個PAR探頭測量植物冠層下“光斑”的方法來計算冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的光斑儀（CI-150）。但CI-150對使用條件有很多限制，并且測量工作量十分繁重。為了滿足生理生態(tài)觀測時對儀器輕便、測量快速、操作簡便的需求，CID公司在90年代后期推出CI-100，并改進升***為CI-110。CI-110使用更方便、測量參數(shù)更豐富并配有強大的軟件功能。
產(chǎn)品參數(shù)
原理與方法
CI-110測量植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，CI-110采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中最精確和最省力、省時、快捷方便的方法。
常不適合孔隙率測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和
不經(jīng)濟的）
分辨率：768×494pix
測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個區(qū)域，方位角
360°亦可分割成十個區(qū)域
PAR感應范圍：感應光譜400～700nm
測量范圍0～2000μmol/m2?s
分析軟件：CID公司專業(yè)CI-110軟件
顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇
電 池：電腦電池
探頭尺寸：直徑6cm，高10cm
總 重 量：500克（不含筆記本電腦）
傳輸接口：USB
工作溫度：0～55℃
產(chǎn)品介紹
通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯
半球圖象上可以設計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
