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原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是***種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。***般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，*后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。 
產(chǎn)品特點：
計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。 
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。 
深度陡度測量，三維顯示。 
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。 
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域． 
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡 
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 
掃描速度達40000點/秒 
可選配納米刻蝕功能模塊。 
技術(shù)指標: 
AFM探頭 
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 
XY掃描范圍：標準6X6微米 
0.25nm 
0.03nm(云母定標) 
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米 
掃描器、針尖座智能識別 
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) 
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購